24 ноября 2017 г. в Томске состоялось заседание секций и Общее собрание САН ВШ (Сибирская академия наук высшей школы), а также Пленарное заседание конференции «СИБРЕСУРС-23-2017». Сотрудники лаборатории приняли участие в секции «Повышение эффективности использования интеллектуальных ресурсов».
В полном объёме работы представлены в разделе «Статьи» и по ссылкам:
Экранирование микрополосковой линии как ресурс для уменьшения чувствительности ее характеристик
Справка: все публикации сопровождаются ссылкой «Работа выполнена при финансовой поддержке Министерства образования и науки Российской Федерации по проекту RFMEFI57417X0172″